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On the Test Set Size in Parallel Test Generation
Get PDFapplication/pdf本稿では,並列テスト生成において生成されるテストパターン数について考察する.複数のプロセッサで同時にテストパターンを生成する並列テスト生成では,一台のプロセッサによる処理に比べて多くのテストパターンを生成する傾向にある.本稿では,生成されるテストパターン数とそのパターンによって検出される故障数との関係を定式化し,並列テスト生成によって生成されるテストパターン数を解析する.さらに,プロセッサ間通信の生成されるテストパターン数への影響について解析し,効果的な通信方法を示す.In this paper, we consider the test set size produced in parallel test generation for logic circuits. Since in a multiple processor system, each processor generates test-patterns independently and simultaneously, the total set of test-patterns tends to be larger than that generated by a single processor system. In this paper, we formulate the relation between the number of generatd test-patterns (test set size) and the number of faults detected by the patterns, and analyze the total number of test-patterns produced in parallel test generation. Further, we analyze the influence of communication among processors on the number of test-patterns, and show an effective method of communication which can obtain a small size of test set in parallel test generation.technical repor
